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Microwave-Optoelectronic Intergrated Device And System Lab.

Equipment

Measurement

sub060102_img01 4-point probe(전기적특성 측정)
sub060102_img02 AFM(표면 분석)
sub060102_img03 Alpha step(표면 분석)
sub060102_img04 Bending tester(유연소자 분석)
sub060102_img05 Bolometer(THz 신호원)
sub060102_img06 Golay Cell(THz 검출기)
sub060102_img07 IPCE(태양전지 효율 측정)
sub060102_img08 Laser(반도체 광특성 측정)
sub060102_img09 Oscilloscope(전기신호 분석)
sub060102_img10 Probe station(반도체 전기적특성 분석)
sub060102_img11 Solar simulator(태양전지 효율측정)
sub060102_img12 THz Spectrometer(THz 신호원 측정)
sub060102_img13 THz TDS(THz 분광 시스템)
sub060102_img14 UV-Vis(분광 시스템)
sub060102_img15 XRF(화학적 특성 분석)
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